HAST老化測試廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產品作加速老化壽命測試。加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

為了提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間。

HAST高加速老化測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內設定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力，的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到模具/裝置上。HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標準，特別是在半導體，太陽能和其他工業(yè)中，作為標準溫度濕度偏差測試（85C/85%RH—1000小時）的快速有效替代方案。

1.低溫步進應力試驗

2.高溫步進應力試驗

3.快速熱循環(huán)試驗

4.振動步進應力試驗

5.綜合應力試驗

6.工作應力測試

IEC :1994  Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized vapour)

GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱