EBSD（電子背散射衍射）是一種強(qiáng)大的微觀分析技術(shù)，它可以提供關(guān)于晶體結(jié)構(gòu)、取向、晶粒尺寸和形態(tài)等信息。EBSD制樣是確保EBSD測(cè)試成功的關(guān)鍵步驟，它涉及到樣品的切割、鑲嵌、研磨和拋光。EBSD樣品的基本要求包括樣品表面要清潔、平整、無(wú)應(yīng)力，并且需要具有良好的導(dǎo)電性。

FIB（聚焦離子束）制樣是一種先進(jìn)的樣品制備技術(shù)，它使用高電流密度的鎵離子束對(duì)樣品進(jìn)行jingque的減薄和切割。FIB制樣的優(yōu)點(diǎn)在于它可以制備極微小、不規(guī)則的樣品，并且可以進(jìn)行三維OIM（取向成像顯微術(shù)）分析。FIB切制的樣面表面平整，非常適合直接進(jìn)行EBSD分析。

氬離子拋光是一種用于樣品的截面制備及平面拋光的技術(shù)，它使用氬離子束轟擊樣品表面，通過(guò)動(dòng)量傳遞，撞擊的離子以可控的速度從樣品中濺射出材料。氬離子拋光的優(yōu)點(diǎn)包括無(wú)磨料污染、無(wú)劃痕、試樣損傷小、機(jī)械變形小，適合EBSD分析，適用于難拋光的軟材料，如Cu、Al、Au、焊料及聚合物等；也適用于難加工的硬材料，如陶瓷、玻璃；軟、硬組合的多層材料，如斷面制備。

EBSD制樣測(cè)試、FIB制樣測(cè)試和EBSD氬離子拋光測(cè)試都是為了獲得高質(zhì)量的EBSD數(shù)據(jù)。EBSD制樣涉及傳統(tǒng)的機(jī)械拋光、電解拋光等方法，而FIB制樣則提供了更高的精度和靈活性。氬離子拋光作為一種新興的制樣技術(shù)，提供了獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)，特別適合于難以處理的材料。在選擇合適的制樣方法時(shí)，需要考慮樣品的材料特性、所需的分辨率和分析目標(biāo)。

深圳華瑞測(cè)擁有的檢測(cè)、分析設(shè)備，以及經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，能為客戶提供包括成分分析、鑒定、配方研發(fā)、微觀結(jié)構(gòu)、形貌觀察、電性能、熱性能、可靠性測(cè)試等全面的性能測(cè)試服務(wù)。針對(duì)客戶產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、測(cè)試及使用中出現(xiàn)的與材料、工藝、設(shè)計(jì)有關(guān)的失效問(wèn)題。

深圳華瑞測(cè)礦石成分分析檢測(cè)主要檢測(cè)項(xiàng)目如下：

化學(xué)成分分析：主要分析金屬材里的各種化學(xué)成分含量（碳, 硅, 錳, 磷, 硫, 鎳, 鉻, 鉬, 銅, 釩, 鈦, 鎢, 鉛, 鈮, 汞, 錫, 鎘, 銻, 鋁, 鎂, 鐵, 鋅, 氮, 氫, 氧 ）；

1、原礦光譜半定量分析（定性）實(shí)際工作中，需要快速了解試樣中有哪些元素存在，還需要大致了解其中的主成分、少量成分、微量成分，以及微量雜質(zhì)。這種迅速作出粗略含量判斷的方法，稱為光譜半定量分析。它是依據(jù)譜線的強(qiáng)度和譜線的出現(xiàn)情況與元素含量密切相關(guān)而作出的一種判斷。

光譜半定量分析的主要目的就是可以以快的速度測(cè)出有用成分及其含量，避免盲目性。

2、化學(xué)多元素分析（定量）

在半定量分析的基礎(chǔ)上進(jìn)行化學(xué)多元素分析，對(duì)光譜中含量較高的元素進(jìn)行定量分析，這個(gè)含量是準(zhǔn)確的含量，光譜進(jìn)行的是定性，那么多元素分析就是定量的分析，為下一步開(kāi)采提供準(zhǔn)確的依據(jù)。

3、X射線衍射分析

利用晶體形成的X射線衍射，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。在礦物分析中主要是測(cè)出礦石中個(gè)礦物的組成成分及含量。如鉬的存在是輝鉬礦中。

利用X衍射就可以指導(dǎo)礦物的工業(yè)可利用價(jià)值。

可以檢測(cè)金屬礦包括：黑鎢礦、銅礦石、釩鈦磁鐵礦、鎢礦石、滑石礦、銀礦石、鉍礦石、原礦石、黑鐵礦石、磷礦石、鈣礦石、鈾礦石、鋁礦石、鉬礦石檢測(cè)、錳礦石、砷礦石、鋁土礦、鋅礦石 、鈦礦石、晶體礦石、鎳礦石、鉻鐵礦、銻礦石、鉛礦石、錫礦石、鐵礦石、鈷礦石、鈦鐵礦、異極礦、鎢華、白鎢礦、硫礦、鉆石礦、鍶礦石、硫酸鋅、鉍精礦、錳礦、硅酸鋅、黝錫礦、磷氯鉛礦、錫精礦、磷礦、鉛精礦、硅礦石、鉬酸鉛礦、銻精礦、銅精礦、鉻礦、鈦礦、鎢精礦、輝鉬礦、鉛鐵釩、鉬鈣礦、鐵礦、鋅精礦、銅鉛鐵釩、鉬精礦、輝鉍礦、白鉛礦、氧化礦、釩礦、閃鋅礦、錫石、方鉛礦等。