SEMI F47 認證測試結果的判定是一個基于量化性能閾值和功能性響應的嚴格過程，需滿足設備無中斷運行、參數波動限值及安全恢復等核心要求。判定結果直接影響設備能否獲得認證，進而決定其在半導體晶圓廠的準入資格。以下從判定維度、具體標準、數據解讀及行業應用四部分展開說明。

一、核心判定維度：功能性與性能指標

測試結果需從兩個層面綜合評估：

1. 功能性判定（一票否決項）

· 零中斷要求：

o 設備在電壓暫降期間（如50%持續200ms）絕 對不允許停機、重啟或觸發故障信號（如PLC報錯代碼）。

o 案例：某蝕刻機因控制卡復位被判失?。ㄖ袛?.5秒）。

· 數據完整性：

o 運行中的程序、工藝參數（如溫度設定值）、存儲數據不可丟失或篡改。

2. 性能波動閾值（允許偏差范圍）

· 關鍵參數容差：

· 恢復時間要求：

o 電壓恢復后，設備需在**≤ 100ms**內回到穩態（如伺服系統重新鎖定位置）。

二、具體判定標準與測試場景

針對SEMI F47的三檔標準暫降事件，判定邏輯如下：

1. 50%電壓暫降（200ms）

· 嚴苛場景：模擬電網深度故障（如雷擊）。

· 判定重點：

o 設備核心控制系統（如PLC、運動控制器）必須持續運行，若任何子系統（如冷卻泵）停機即失敗。

o 允許瞬時性能波動（如電流驟升20%），但需在50ms內收斂至±10%以內。

2. 70%電壓暫降（500ms）

· 常見場景：負載切換或局部短路。

· 判定重點：

o 設備需維持完整工藝鏈（如沉積設備的氣體流量與射頻功率聯動不中斷）。

o 若波動導致良率風險（如晶圓溫度超差±3°C），視為未通過。

3. 80%電壓暫降（1000ms）

· 持久性場景：變壓器故障或長線路問題。

· 判定重點：

o 驗證儲能系統有效性（如UPS支撐時間 ≥1.1秒），否則判為失效。

o 耗能設備（如加熱器）允許功率降至70%，但恢復后需自動補償至設定值。

三、數據解讀與統計分析

測試報告需基于原始數據進行多輪驗證：

1. 數據采集要求：

· 每個暫降等級測試**≥5次**（消除隨機干擾）。

· 采樣率**≥1 MS/s**（捕獲微秒級瞬態事件）。

2. 統計分析規則：

· 通過條件：5次測試中，功能性中斷次數=0，且性能波動超標次數≤1次（即允許1次輕微超差）。

· 失敗判定：

o 單次測試發生功能性中斷，或

o 同一參數在≥2次測試中超差（如轉速連續2次波動超±1%）。

· 邊界案例處理（如波動±10.5%）：

o 需復測3次，若復測均≤±10%則通過，否則失敗。

四、行業特殊性與判定延伸

1. 半導體設備擴展要求

· 納米級工藝設備（如EUV光刻機）：

o 增加亞毫秒暫降測試（100–500μs），判定位置精度偏移≤1nm。

· 子系統獨立判定：

o 若主系統通過但真空單元失效，僅對該單元不予認證。

2. 認證結果分級

3. 報告與爭議處理

· 報告內容：需包含暫降波形圖、超差點位標記及故障根本原因分析（如電源響應延遲）。

· 申訴機制：若對結果有異議，可申請第三方實驗室（如TüV SüD）仲裁復測。

五、實際影響與行業價值

· 失敗案例分析：

o 某干法刻蝕機因電源Hold-up時間不足（僅180ms），在50%暫降測試中停機，導致認證失敗并損失$200萬訂單。

· 通過認證的價值：

o 設備停機率降低90%（SEMI統計），3nm晶圓廠良率提升≥0.3%。

o 成為臺積電、三星等大廠的強制采購門檻。

：SEMI F47認證結果判定以零中斷為核心、性能容差為邊界，通過多場景量化測試確保設備在極端電網條件下的可靠性。工程師需重點關注恢復時間、波動收斂性及子系統協同三大維度，而認證等級（Class A/B）直接影響設備在高端產線的競爭力。建議企業在研發階段即導入SEMI F47預測試，規避量產認證風險。